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LIESSE

Effets laser et fautes sur les circuits intégrés dédiés à la sécurité

Le projet LIESSE est consacré à l’étude des vulnérabilités apparaissant au niveau matériel lors de l’implémentation physique d’algorithmes cryptographiques. Et plus particulièrement, à l’étude des attaques par injection de fautes au moyen de sources laser (attaques en fautes différentielles, attaques par modification d’algorithme, safe error, etc.).
La faisabilité des attaques présentées de façon théorique dans la littérature sera testée, ainsi que l’effet du passage à des technologies avancées (CMOS 65,40, et 28 nm).
Un travail de modélisation des effets laser sur les circuits sera mené. Les modèles obtenus seront utilisés pour mettre au point des simulateurs représentatifs des effets physiques. Ce projet doit permettre une meilleure compréhension des phénomènes physiques mis en jeu et de leur application expérimentale. Sa finalité est de proposer de nouveaux principes d’évaluation sécuritaire des circuits vis-à-vis de ces attaques et de valider des contre-mesures adaptées.