Ce projet propose de coupler les spectroscopies de rayons X et la microscopie à force de cisaillement pour concevoir et fabriquer deux nouveaux prototypes déquipements permettant dobtenir simultanément la topographie et la cartographie chimique de la surface à analyser avec une résolution de 50 nm pour les deux analyses.
Porteurs
CINaM - Centre Interdisciplinaire de Nanosciences de Marseille
Entreprises
LOVALITE SAS
AXESS TECH SARL
Recherche / Académie
Institut Franche-Comté Electronique Mécanique Thermo et Optique - Sciences et Technologies (FEMTO-ST)