Porteur du projet

ATMEL

Partenaires

ST Microelectronics, L2MP, LP3, IMS

Financeurs

FUI,

MADISON

Méthodes d'Analyse de Défaillance Innovantes par Stimulation Optique dyNamique


Développer des méthodes d’analyse de défaillance des circuits intégrés par le couplage de la stimulation optique dynamique avec le test fonctionnel des circuits intégrés dans un environnement pré industriel

Porteur du projet

ATMEL

Partenaires

ST Microelectronics, L2MP, LP3, IMS

Financeurs

FUI,
Thématique Marchés Investissement R&D Durée Année de financement
Microélectronique
Autres
2933 K€ 36 mois 2008
Thématique
Microélectronique
Marchés
Autres
Investissement R&D
2933 K€
Durée
36 mois
Année de financement
2008

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